Leica Em TXP是目标准备装置为了铣削，锯，研磨， 和抛光样品在检查之前SEM，TEM， 和LM技术。
集成的立体显微镜可以精确地定位，并易于制备几乎看不见的目标。
使用样品枢轴臂，可以直接观察样品在0°至60°之间的角度，或与前面90°观察到，以确定距离目前的格拉蒂。
具有自动电子机构，力调节的进料控制和倒计时功能的集成过程控制可以使用户免于耗时的常规样本准备。
具有综合立体显微镜的表面表面和目标检查意味着用户不必传输样品以进行距离估计和表面评估，从而提高用户效率。
各种工具插入物可以使样品被铣削，锯切，钻孔，接地和抛光，而无需从仪器中取出样品。通过立体显微镜观察过程的能力可以节省时间和成本。
质量控制的工作流程：结合目标表面系统Leica EM TXP和光学显微镜Leica DM2700 m可以减少所需的过程，简化工作流程并产生可靠，精确的结果。