徕卡EM TXP Polissage ionique Préparation d ' échantillons pour MET/MEB 接待处 徕卡 188金宝搏的网址

徕卡EM TXP是一个服装préparation des échantillons和«ciblage»d 'une zone 'intérêt.允许勒fraage, le ponçage, le meulage等勒polissage这是先人的观点MEB,遇到密苏里州,microsondes等等

Un stéréomicroscope intégré permet de cibler les zones d 'intérêt à préparer和les préparer avec facilité;Avec le bras articulé, l'échantillon peut être directobservé à角度由0°和60°组成,或90°面向前方évaluation距离à l'aide d' UN格oculaire

仅供研究用途
Système mécanique de surfaçage et ciblage Leica EM TXP

关键特性

Contrôle du processus automatique intégré

Contrôle intégré,运动E-W automatisés, contrôle de la force appliquée lors du polissage, function de décompte de l ' épaisseur pour gagner du temps lors des préparations de routine

区域的划分和曲面的确定

定义曲面,然后检验这个函数,stéréomicroscope intégré重要的是,效用函数不是在transférer l'échantillon,对距离和一个évaluation的曲面进行估计,增加了'efficacité的效用函数。

可用性的大数字

可用性的大数字

一个大的数字渗透到le ' fraage, le sciage, le ponçage, le meulage和le ' échantillon的polissage没有退休的乐器。La capacité d’observation du process à travers le stéréomicroscope mène à des économies de coûts et temps。