三束入射离子束的优点
使用铝粉作为基体材料。采用平均粒径分别为30和200nm的人造金刚石颗粒制备了两组金刚石/铝复合材料。为了突出TIB切割的效率，使用金刚石颗粒研磨聚合物膜在三脚架抛光机上进行标准机械抛光。另外，新的TIB技术通过使用徕卡EM TIC 3XTIB斜面切割机可实现高质量的表面精加工。而不是一束离子束的徕卡相对长度单位TIC 3X使用三束入射离子束，它们在掩模的中心边缘相交，形成100°的铣削扇形（图1）。在铣削过程中，样品保持不动，这与其他一些方法中的惯常振荡相反，因此样品和工作台之间的热传递比振荡样品要好得多。所附的双筒望远镜允许实时观察以控制铣削时间，直到获得包含金刚石/铝界面的平坦表面。
图1:a）钛离子铣削示意图；b） 徕卡标准样品架照片相对长度单位本工程中使用的TIC 3X仪器。在a）中，1：样品，2：掩模，3：样品表面，4：离子束交叉点，5：感兴趣区域，6：观察方向和J1，J2和J3：离子束。
三重离子束技术提供光滑的表面
金刚石和铝的硬度差异很大，形成了一个不均匀的表面，尽管反复抛光，最终粗糙度仍保持在5–15纳米左右。机械抛光的主要缺点是由于固有的材料特性导致表面不均匀，表面污染主要是由于使用聚合物片材导致的，这可能导致错误的结论EDX分析和不均匀表面渲染撒小谎首选选址的准备工作困难。因此，这样的表面在质量上甚至不适合进行金相研究。相比之下，TIB制备的样品表面相当光滑，甚至显示出铝基体中的晶粒对比度（图2）。
图2:扫描电镜二次电子图像显示a）机械抛光，b）30微米金刚石/铝复合材料的TIB抛光表面和c）b）矩形区域的高倍图像；（d）扫描电镜/EDX界面粒子光谱，e）200微米金刚石/铝复合材料的TIB抛光表面，插图：抛光（箭头所示）和未抛光（双箭头所示）表面概述。a）和b）中的表面相对于通常的水平位置倾斜45°，以显示表面粗糙度。
离子研磨过程中几乎没有伪影
最初，人们怀疑在本研究中测试的TIB方法可能会在离子铣削过程中引入伪影。然而，由于离子入射与制备的样品表面平行，金刚石和Al可以被同样地研磨，这使得样品表面变得平坦和抛光，几乎没有任何制备伪影。
扫描电镜/EDX分析表明，30纳米金刚石/Al样品中的界面颗粒富含Al、O和C，而界面附近Al基体上的O和C含量可以忽略不计。这种存在会对复合材料的整体热性能产生深远的影响。由于目前的工作中没有氧化铝支撑元素，因此2.O3.粒子最可能来自铝2.O3.原始铝粉颗粒上存在的层。
结论
新的TIB技术适用于获得近乎完美和无伪表面的界面表征。制备的表面强烈地减少了不确定性扫描电镜成像和光谱学，并允许表征明确显示亚微米铝2.O3.颗粒和干净的界面，分别存在于30和200金刚石/铝复合材料中。所获得的表面也非常适合通过以下方式进行优先选择：撒小谎进一步TEM刻画
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