用于电容和热释电电流测量的小圆盘样的制备

可靠的测量需要对区域进行精确的估计，一个，厚度，t，根据以下众所周知的关系对样本进行分析:

在哪里C样品电容是否被测量，ε₀是真空介电常数，α是热释电电流测量中的冷却速率和我_p（T)为在给定温度下测量的热释电流，T．精确测量需要明确的形状和高度平行的层状样品。这很难通过手工抛光的方法来实现，最好是机械抛光。

在这个技术报告中，我们演示了徕卡EM TXP目标堆焊系统制备了由陶瓷相LaMn烧结样品制成的小电容器₇O₁₂［１］，表现出在Néel温度以下由反铁磁转变引起的反常铁电行为，T_N= 78 K。样品中的残余极化是通过热释电电流测量来确定的，如公式1所示。这个测量包括极化电容器上面T_N高电压可达900 V;样品随后被冷却到液氦的温度。然后去除极化电压，在以给定的加热速率a加热样品时测量热释电流。

在下面的图1a中，我们展示了通过机械抛光一个烧结样品圆筒的两侧而获得的电容器。我们得到了一个均匀厚度的小圆盘t= 0.25 mm，然后涂上一层薄薄的金层。在图1 b[2]，我们给出剩余极化曲线，P（T)，由热释电流曲线积分得到，我_p（T)，根据公式1。

A. Gauzzi和Y. Klein的知识产权，IMPMC, UPMC-Sorbonne Universités, CNRS, IRD, MNHN，巴黎，法国，F. Milton, A. Gualdi, D. Garcia, A.J.A. de Oliveira, Universidade de Federal São Carlos, São，巴西Carlos, E. Gilioli, IMEM-CNR, Parma，意大利。

作者感谢Sébastien Charron和Imène Estève (IMPMC)在样品制备方面的帮助。

1. Prodi A等人:理论物理。Rev. b79: 085105(2009)。
2. Gauzzi A, Klein Y, Milton FP, Gualdi A, Dreifus D, Garcia D, de Oliveira AJA, Gilioli E:未发表(2014)。