徕卡em txp是一个目标准备装置为了铣削，锯切，磨削， 和抛光在检查之前的样品SEM，TEM， 和LM.技巧。
综合立体化仪允许精确定位和易于制备几乎可见的目标。
使用样品枢轴臂，可以将样品直接观察到在0°和60°之间的角度，或90°到正面，用于与距离测定目镜粗糙。
具有自动E-W引导机构的集成过程控制，力调节馈电控制和倒计时功能可节省用户耗时的常规样品制备。
表面光洁度和靶视图与集成立体化的意味着用户不必将样品转移到距离估计和表面评估，这增加了用户效率。
各种工具插入件允许样品铣削，锯，钻孔，地面和抛光，而无需从仪器中移除。通过立体显微镜观察过程的能力导致时间和成本节约。
质量控制中的工作流程：结合目标浮出系统Leica EM TXP和光学显微镜Leica DM2700 M允许减少所需的步骤，简化工作流程并产生可靠且精确的结果。
