故事

用于电子背散射衍射（EBSD）的铝样品的横截面

Leica EM TIC020的应用说明，徕卡EM TIC 3X - 材料研究

目的
电子背散射衍射（EBSD）例如用于检查材料的晶体取向。对于这种样品的样品预制有时非常棘手，因为信息深度仅为nm（〜20nm或更小）。这意味着样品表面必须是平坦的，没有制备伪距。机械抛光主要导致样品表面损坏。

目标
使用斜坡切割方法完美的EBSD样品表面。

作者

主题和标签

处理描述（此特定样本的基准值）

结果
Al样品的表面质量优异。
衍射图案（Kikuchi频带）证明了准备质量。
定向映射显示了铝的不同颗粒的方向。

图1：大图像：具有相应衍射图案的定向图像映射（OIM）。插入：铝样品的EBSD。

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