故事

材料科学家和矿物学家准备他们的EM样品的好地方

巴黎IMPMC合作实验室,深受用户好评

2014年6月物理研究所Minéralogie, Matériaux and de Cosmochimie (IMPMC)Université的皮埃尔和玛丽居里在巴黎成为一个徕卡参考实验室EM样品制备有这样的设备徕卡EM TXP目标堆焊系统和徕卡EM TIC 3X离子束磨铣系统。在采访中,Imène Estève是美国国家科学研究中心(CNRS)的工程师和扫描电镜-菲布斯负责实验室运营的国家设施(National facility)向我们介绍了这项合作是如何发展的。

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参考实验室已经运行了大约一年了,人们对它的接受程度如何?

Imene埃:很好,真的。这些仪器使我们能够制备各种形状或结构迥异的样品,从钻石晶体到悬浮样品,再到需要低温制备的热敏树脂。我们看到这些仪器的免费使用和易用性使得它们在我们实验室非常受欢迎。我们的电子显微镜平台也收到要求EM样品制备从附近的机构。

自从您的实验室配备了徕卡EM TXP和徕卡EM TIC 3X后,您能够处理哪些类型的样品?

Imene埃:到目前为止,我们已经准备了各种材料。我们已经加工了不同的合金铜,钛或铝,以及岩石,如陨石或泥石,矿物,如钻石,聚合物和催化剂。材料可以有不同的形状,如棒状、粉末状、薄片状、石头状或覆层状——它们唯一的共同点是需要小心处理,例如在低温或缺氧状态下。

您在工作流程中使用Leica EM样品制备系统的主要好处是什么?

Imene埃:主要优点是,我们能够准备和抛光一个大的表面,在几毫米范围内,没有任何硬化或机械制品造成的裂缝,在那里,聚焦离子束(菲布斯),例如,只有几微米的抛光可以实现。

这种类型的样品制备减少了样品观察和分析之前所需的步骤的数量,同时是非常通用的。我们可以使用徕卡EM TXPEM抽搐3 x对“硬/软”界面、脆弱、多孔和纹理材料以及复合材料进行微分析,这些材料现在有资格在扫描电子显微镜中进行微分析,使用聚焦离子束铣削、微探针或纳米sims。

无论电子显微镜的成像技术在特定目标上表现良好,如果样品是均匀的和有特征的就变得非常重要。这个观测矩阵允许将被分析的对象置于地质、年代、环境或其他环境中,以重现毫米级梯度,并实现更多的统计分析。

由于徕卡仪器的使用,你在应用方面有新的发现吗?

Imene埃:我们能够加速一些聚焦离子束的应用多亏了样品的预制备徕卡EM TIC 3X。这适用于钻石和岩石,特别是对于3D重建。此外,我们目前正在推出一个新的样品制备金刚石砧电池的协议,结合激光切割和离子束抛光与徕卡新兴市场TIC 3X和聚焦离子束。

在这个实验室的概念中你最欣赏的是什么?

Imene埃:合作伙伴关系是我们的实验室和188金宝搏的网址,因为我们的交流使双方都受益于发展他们的专业知识和专有技术。在工作流中测试最新工具的机会使我们能够非常彻底地更好地评估我们的需求和工具性能之间的匹配。

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