芯片测试，封装，集成电路测试intégrés

Les解决方案d'imagerie modulaires et personnalisées de徕卡微系统辅助L188金宝搏的网址es fournisseurs et Les fabricd '服装à réaliser检查和分析等précises提供晶圆，集成电路，组装IC等测试电路intégrés。La preuve de conformité aux spécifications définies lors de La manufacture de disposis de semiconductor est essentielle à La fiabilité。为我们的国家提供服务propreté，为我们的国家提供服务，为我们的国家提供服务，为我们的国家提供服务，为我们的国家提供服务。Cependant, la demand de développement d'une technology de pointe aux performance supérieures est constant。Ces systèmes d'imagerie devraient donc également contributor à la R&D。

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188金宝搏的网址在显微镜下，我们可以找到解决问题的方法，也可以找到晶圆和封装电路。

可视化rapide des détails jusqu'à l'échelle nanométrique, imagerie haute résolution

Nos systèmes d'imagerie peuvent fournir une检查和分析précises et rapides de la surface des wafer afin de garantir des performance optimales pour vos配置à半导体。Cependant拉metrologie de表面我们主持人des违抗批评:Les des晶圆表面是否peuvent结构复合物用des囚禁与necessitant一excellente决议laterale ou des图片et des山谷microscopiques necessitant一个决议verticale inferieure au纳米。lessystèmes d'imagerie徕卡显微镜共焦装置和图像装置interférométrie vous offrent une résolution latérale important (jusqu'à 140 nm) ainsi qu'une résolution verticale (jusqu'à 0,1 nm) avec une acquisition rapide d'images(秒)。

Bosse haute et étroite de forme gaussienne présente sur la surface d'une tranche de silicium, imagée en 3D par microscopie confocale。Les caractéristiques表面的复杂的形状和突然的倾斜，comme cette bose, sont imagées快速的快速的高级résolution。1:斑块avec bosse à la表面2:balayage des boss au显微镜共焦(秒)3:图像结尾

倾倒表面très lisses des wafer, l'imagerie en interférométrie peut acquérir des textures de surface avec une résolution jusqu'à 0,1 nm。La totalité du balayage a duré moins de 3秒。

Méthodes de反差:薄片上的图像:a) aperçu表面的速溶物détection b)喜爱的微粒，c)喜爱的黑色微射线和d)喜爱的透明薄膜défauts (DIC)。L'imagerie avec chque mode d'éclairage est réalisée en quelques seconds。

我的努力，différentes méthodes反差和观点，游戏

Optique高级表演

伟大的视景qualité peut améliorer薄片和配置的检验效果à半导体:les détails尾翼和设备可见的努力。Les systèmes d'imagerie徕188金宝搏的网址卡微系统实用desoptique高级表演et primées qui produisent des图像无失真。L'optique peut être soumise à deux types d'aberration nécessitant une correction:

单色(indépendante de la longueur d'onde de la lumière [couleur])， comme l'astigmatisme, le coma et la courbure du champ
染色(en function de la longueur d'onde de la lumière)。

没有概念和意见ingénieurs意见conçoivent合成意见，有渗透性的，有检查的，有薄片，有对比的，有résolution de qualité最佳。