可用于半导体、集成电路、组装测试

每一个薄片的表面，成像干涉图è可以在0,1 nm的范围内获得表面成像干涉图。我的视野很好，我没有第3次机会。

Metodi di contrasto:我们可以把它放在一个薄片上:a)表面的全景图b)颗粒状的轮廓图c)微涂鸦状的轮廓图d)对干涉的薄片图(DIC)。我的图像是完整的ciascua modalità照明azione viene在pochi第二。

我们可以使用我们的成像一致性和可视化più设备，我们可以使用我们的困难成像，我们可以使用我们的控制qualità我们的成像一致性和可视化più效率和准确性。La qualità dell' imundicontrast e livello di ttaglio dipende in larga misura ' ll'illuminazione ' l'ottica利用。同样的，è fondamentale scegliere il metodo i appropriato e impiegittica and alte prestazioni con a massima correzione。我们可以把画画出来，把画画出来，把画画出来。我们可以把画画出来，把画出来。我们可以把画画出来。

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• 单色光，散光，彗差
• 克伦atica(第二个Della lunghezza d'onda Della luce)。

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