故事

高分辨率碳涂层:多少碳才算太多?

徕卡EM ACE600应用笔记-材料研究

碳载体膜通常用于高分辨率TEM.厚度是评估其在特定实验中有效性的主要标准之一。在这方面,经常使用石墨烯(氧化物)层。然而,电荷耗散和机械稳定性对高探针电流和高电压,包括长期采集协议同样重要。

此外,即使样品在基材上沉积之后,污染问题也应该得到解决。因此,超薄碳膜的制备和使用是一个很好的补充,在大多数情况下是一个更好的选择。

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利用自适应碳丝蒸发进行多次蒸发是获得厚度均匀、机械稳定性好的超薄碳膜的有利工艺。这些薄膜需要用一个有洞的碳或量化栅格来支撑。这种碳膜的合成方法可以在本文中找到徕卡EM ACE600应用注:“从你的样品中揭示更多的方法:超薄碳膜'.

多次蒸发过程确保了碳膜的平滑和均匀的密度,这些特性对于原子尺度的实验是至关重要的。高度均匀的密度是由于缺乏大的碳团簇,这通常是在制备膜与传统的碳螺蒸发过程。

图1为CdSe/CdS核/壳纳米棒的原子尺度成像数据(HAADF-STEM)。当第一次沉积在新制成的碳膜上时,由于纳米棒悬浮液中的污染物,STEM成像过程中的污染是一个主要问题(图1A)。如果使用低功率设置,等离子清洗可以用来分解和解吸污染物。然而,样品和薄的碳膜都会受到不利的影响,特别是当氧气被用来制造等离子体时。

另一种方法是进行高真空烘烤来解吸污染物。在加热时,污染物的蒸汽压力将上升,促进解吸。图1B和1C显示了处理后试样的放大图像。污染几乎消除,甚至可以获得一系列15个投影图像的角度范围从-70到70度。在图像1D中可以看到显示纳米棒CdS核心位置的三维重建。

更多资料可参阅本刊物:基于顺序阳离子交换的近红外发射CulnSe2/CulnS2点核/棒壳杂纳米棒。W van der Stam, E Bladt, FT Rabouw, S Bals, Celso de Mello Donega。ACS NANO (2015)

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