故事

ZnAg样品的表面改性- SEM样品制备

徕卡EM RES102的应用说明-材料研究

通过清洗、抛光和增强对比度的方法制备软ZnAg样品,以获得样品的晶粒结构和界面信息。

样品在机械抛光后被污染表面上还有些划痕。颗粒结构几乎看不见。依次进行清洗、抛光和对比度增强。

样品上的深划痕只是在每次制备步骤后识别相同的样品区域。

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制备条件及结果

机械抛光

清洁

加速电压: 3 kV
枪电流: 1.8马
铣削角度: 10°
加工时间: 30分钟

结果
清洗后的表面美观多了(见图2)。从样品中去除所有污染是可能的。可见一个弱的颗粒结构。

抛光

加速电压: 7 kV
枪电流: 2.6马
铣削角度:
加工时间: 1 h


结果
抛光后可以进一步提高表面质量。晶粒结构更加清晰(见图3)。

对比度增强

加速电压: 4 kV
枪电流: 1.8马
铣削角度: 90°
加工时间: 1.5分钟

结果
最后一个短的对比度增强步骤提供了非常清晰的晶粒和界面结构。

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