只有偏振器打开的同轴光。
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故事

具有多功能照明的数字显微镜和各种对比方法,以获得更有效的检查和质量控制

使用Leica DVM6具有集成环光或同轴照明系统的示例应用

利用能够实现多个对比度方法的多功能照明系统的最先进的数字显微镜,例如徕卡DVM6,对检验,质量控制和故障分析非常有用。这些对比方法允许产品或组分表面上的缺陷或缺陷更容易且迅速地检测到。讨论了现代数字显微镜如何有助于使工作流程更有效地进行检查,质量控制和故障分析。

只有偏振器打开的同轴光。

作者

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数字显微镜应用于检验,质量控制和失效分析的背景

数字显微镜没有目镜,但使用数码相机作为探测器。它们越来越多地用于各种技术应用,例如在制造,装配,检验,质量控制(QC)和故障分析(FA)期间的零件快速轻松地文档。

为了更好地可视化产品或产品组分缺陷,使用光学显微镜利用不同类型的照明对比度[1-4]。这种照明对比度方法通常用于各种行业,例如汽车,航空航天,铁路,微电子和电子,半导体,精密工程,冶金和金属塑视,玻璃和陶瓷,化学品,制药和医疗器械。188bet怎么注册

对于工业制造来说,加快检验和QC过程是至关重要的。如果通过不同类型的照明和对比度增强其外观,更容易检测或看到感兴趣的特征,那么检查和测试所需的时间就更少。数字显微镜的最新发展使其成为一种更实用、更有效的检测和质量控制方法。

具有照明对比度的数字显微镜成像的例子

引线框架

引线框架是微电子芯片封装中使用的金属结构,以将来自半导体表面上的小电端子的布线连接到电子设备和电路板上的较大刻度电路。它们用于几乎所有微电子半导体封装。对于这里所示的铜(图1)的情况(图1)镀有锡(Sn),发现在修剪引线框架的横截面上涂抹的Sn的量是用于修剪工具的良好指示器。当SN的涂抹达到临界水平时,通常替换工具。显微镜照明对比度方法使用户能够更容易地看到SN的涂抹。

硅晶片

在微电子器件的生产中,硅片被用作集成电路的衬底。在生产过程中检测缺陷对于避免对最终产品或部件性能的有害影响是至关重要的。显微照明对比方法允许更容易和快速地检测硅片表面的缺陷(图2)。

用徕卡DVM6用不同的照明对比方法(示意图插图)记录的蚀刻图案硅片图像:图像中的不同对比强调了硅片上的不同特征。在浮雕对比和偏光片打开的情况下,硅片表面的缺陷更容易看到(图A)。

食品包装用压花金属涂布纸

压花是一种过程,它在各种材料中产生凸起的浮雕模式,图像和设计。这里示出了用于食品包装的压花金属涂布纸的一个例子。显微镜照明对比度方法有助于更好地可视化压花金属涂布纸或存在于其表面上的污染物(图3)。

使用基于LED(发光二极管)技术的集成环光和同轴照明系统的Leica DVM6获得上述图像(图4)。

结论

数字显微镜,使用相机作为图像探测器而不是目镜,在制造和零件组件,质量控制(QC)和故障分析(FA)期间,对检测非常实用。现代数字显微镜利用灵活的集成LED照明系统,该系统能够在检测缺陷和缺陷方面提供多种对比度方法的更多优点。一种如此现代和多功能的数字显微镜是Leica DVM6。怎么样的例子徕卡DVM6使检查、QA和FA工作流程更加高效。

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