Leiterplatteninspektion
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死Leistung einseitiger, doppelseitiger奥得河mehrlagiger Leiterplatten将entscheidend军队Loten, Durchgangslocher和Komponenten她Dioden, ic芯片和Kondensatoren beeinflusst,死阿莱uberpruft了得。死Inspektion吵架西奇麻省理工学院folgenden问befassen:信德死Stifte祖茂堂不?信德Ausrichtung和Polaritat korrekt吗?
嗯死Einhaltung der festgelegten Spezifikationen nachzuweisen,这是zuverlassige Dokumentation总是吵架。Moglicherweise benotigen您欧什bildgebende Losungen,死您贝der Entwicklung诺伊尔Leiterplatten和Komponenten unterstutzen能帮。
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Herausforderungen贝der Leiterplatteninspektion
Lieferanten和Hersteller得Leiterplatten kostengunstig prufen。《国际卫生条例》oberstes ziel4是死Sicherstellung和Optimierung der Produktleistung -lebensdauer。
Herausforderungen, denen您贝der Inspektion begegnen,能帮祖茂堂Ineffizienz fuhren。麻省理工学院我derzeitigen Bildverarbeitungslosung您能moglicherweise努尔施沃静脉快速地PCB-Screening Defekte汪汪汪和死Uberprufung冯Spezifikationen durchfuhren:您可以在不施耐尔von der Beobachtung静脉Ubersicht祖茂堂feinen der探针ubergehen细节,relevante细节了aufgrund阿Beleuchtung不erkannt和死Handhabung der Proben umstandlich。
您要是daruber hinaus bestimmte Aufgaben一个verschiedenen speziellen Arbeitsplatzen ausfuhren,将der Inspektionsprozess军队窝erforderlichen运输冯Proben和Notizen gestort。要是es große Unterschiede贝姆Kenntnisstand der Benutzer有和大刀时间毛皮Schulungen aufgewendet了混乱,丹erfordern aktuelle Bildgebungslosungen moglicherweise杯erheblichen Aufwand毛皮Schulungen。Außerdem是es schwierig,一张effiziente Inspektionen durchzufuhren,您要是unt Unbehagen和Belastung莱顿,是不是z。b .贝stundenlangen Inspektionen。
Vorteile der徕卡Leiterplatten-Inspektionsmikroskope
效率筛选和Dokumentation
死Leiterplatteninspektion麻省理工学院徕卡Mikroskopen萤石施耐尔和komfortabel durchgefuhrt了。
- 看清您一张große Ubersicht der探针和zoomen您麻省理工学院der leistungsstarken Zoom-Optik einfach杯德国冯感兴趣去对。
- 更多细节的军队vielseitige Beleuchtung向
- 麻省理工学院Einfache Probenmanipulation großem Arbeitsabstand
- 在kurzerer Dokumentieren您更多Ergebnisse时间麻省理工学院einem Digitalmikroskop奥得河einem Stereomikroskop麻省理工学院Kamera
- Profitieren您冯窝Vorteilen des ergonomischen Zubehors,嗯bequem祖茂堂arbeiten und死Belastung祖verringern欧什贝ganztagigen Inspektionen。
麻省理工学院Inspizieren您静脉einzigen vielseitigen Losung
Erledigen您一切von der visuellen Inspektion bis欣祖茂堂Messungen和Datenaustausch麻省理工学院静脉einzigen Losung。您得不毛皮verschiedene Schritte死Arbeitsplatze wechseln,是死Effizienz reduziert。Analysieren, kommentieren和teilen您bild mithilfe静脉数字Inspektionslosung麻省理工学院integriertem On-Screen-Display (OSD) keinen PC erfordert死去。
最小Schulungsaufwand
麻省理工学院静脉数字Inspektionslosung·冯·莱卡erleichtert一杯直观Bildverarbeitungssoftware死Schulung der Benutzer和ermoglicht es您,迅速地您Fahigkeiten祖茂堂entfalten。您可以在mehrere Benutzer gleichzeitig麻省理工学院einem Live-Bild einem监控schulen,汪汪汪wodurch您时间和Muhe sparen。静脉weiterer Vorteil besteht达林,dass麻省理工学院kodierten Mikroskopkomponenten korrekte Messergebnisse sichergestellt和menschliche Fehler vermieden了您能。
Stereomikroskop ohne FusionOptics
Mikroskope der S9-Serie麻省理工学院FusionOptics
Bildsimulation麻省理工学院静脉Leiterplattenprobe ohne和麻省理工学院Effekt冯·FusionOptics是不是贝姆耀光的军队死Okulare wahrgenommen。
3 d Schnelle Leiterplatteninspektion麻省理工学院Stereobild
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要是一张3 d-perspektive毛皮死Inspektion冯Leiterplatten wichtig坚持,是静脉Stereomikroskopbild erforderlich。Haufiges Nachstellen进行Stereomikroskops, z。b .死Neufokussierung和Anderung des Zoomfaktors zur Verbesserung der Auflosung和Tiefenscharfe萤石死Inspektion verlangsamen。这本Nachstellen萤石麻省理工学院der FusionOptics-Technologie minimiert了。当您的军队死Okulare schauen,您能静脉3 d-stereobild麻省理工学院(hoh Auflosung和großer Tiefenscharfe看清。
死FusionOptics-Technologie uberwindet optische Einschrankungen, indem死beiden Strahlengange des Stereomikroskops毛皮verschiedene Aufgaben verwendet了:静脉Strahlengang liefert静脉hochauflosendes《图片报》,der安德利果汁静脉《图片报》麻省理工学院(hoh Tiefenscharfe。
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Weitere细节:徕卡Objektive,Optik和Beleuchtungsarten
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