徕卡EM RES102
Sistema de fresamento de feixes de离子
Preparacao de amostra对位microscopia eletronica
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- 减少对Cu-Zn-Al FIB-Induced FCC层形成的奥氏体
尤金尼亚塞拉亚、EMAT比利时安特卫普大学和多米尼克•Schryvers Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas,阿根廷,Microsc科技>,2011年1月,74 (1):84 - 91。doi: 10.1002 / jemt.20877
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- 纳米到微米比例不均匀腐蚀的大块金属玻璃离子溅射J.W.邓,K。杜,B。马丁隋,沈阳材料科学国家实验室,金属研究所,中国科学院沈阳,中国,先进材料组织和性能的研究所,北京科技大学,北京,中国,爱思唯尔,金属间化合物,卷34岁,2013年3月,页75 - 82
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- TEM研究金属/陶瓷界面AA7475 /或基地2O3共,固态现象(卷186),电子显微镜十四,Marta Gajewska Jan Dutkiewicz莉迪亚Lityńska-Dobrzyńska,杰西Morgiel,冶金和材料科学研究所波兰科学院Rymonta 25日,波兰,固态现象(卷186),电子显微镜十四
http://www.scientific.net/SSP.186.202
- 微观结构和磁性的l11埃及基督徒与添加二氧化硅薄膜,分别以An-Cheng太阳一个,Chuan-Fa黄一个F.T.元b,Jen-Hwa许b,一个化学工程与材料科学、元智大学Yuan-Tung路135号,中坜32003、台湾、b国立台湾大学物理系,罗斯福路,秒。4,10617年台北,台湾,
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