Quando asuperfíciedo material daamostraéarm microscopia de luz incidente，Quantmente a amostra passa porváriosprocessamentos，Atéque a camada ousuperfíciea ser分析seja usinada comprecisão。Assoluçõesde fluxo de trabalho da Le188金宝搏的网址eica microSystems para tecnologias do estadosólidoakarangemtodas as Etapasartáriaspara apreparaçãode amostras quequestam alta quequate。
enquanto o.徕卡em txp.克雷讷托纳斯担任Etapas dePré-PrintionaçãoMuUM Instrumento，O徕卡EM TIC 3XReviza A etapa Final de Precience De Quase qualcient材料。Conectando Com aconfiguraçãode acoplamento做徕卡em vct.，Amostra Pode，Então，Ser转移仪Para O（Cryo）SEM SOB sócondcondõ。
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3.
徕卡EM TIC 3X
Sistema de Frestamento de Feixesdeíon
徕卡EM Res102
Sistema dePulverizaçãoPorFeixe deíons
徕卡em txp.
Sistema dePredingaçãodeSuperfíciedeAlvo
Corte E Polimento.
ABredação罚款Ocorre Com UM Corte Preciso，Lixamento E Polimingo DaSuperfície，Antes DaPulverizaçãoPorFeixedeíonse Cobertura Com Metal / Carbono。com o sistema depreparação做艾尔沃徕卡em txp.，Todas As Etapas de UsinagemQuestáriasPodem Ser ScaliSodas EM UM Instrumento - Desde O Corte E Fresa Com DiamanteAtéOPolimento。
Superfíciede Alta Qualidade
o SistemaúnicodePulverizaçãoComzoeDeíonsOonsOnsleca ec tic3xéo sistema escolhido para o eds，wds，uper e Ebsd，pois apulverizaçãocom feixe deíonsémenormmenteoúnicoMétodoCapazdeatingirSeçõesCroundversaisde Alta QualidadeSuperfíciesPlanasEM Quase Qualique Tipo De Material。o Processo Revela作为Estruturas Internas da Amostra，MinimizandoDeformaçõeseDanos。
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