신속한발견,신속한대응
마이크로일렉트로닉스및반도체용검사시스템DM3 XL
마이크로일렉트로닉스및반도체산업에서검사,공정제어또는결함및고장분석에서는속도가매우중요합니다。결함을더빨리발견할수록더빨리대응할수있습니다。
30%향상된시야
DM3 XL검사시스템은넓은시야덕분에결함을더빠르게발견하고수율을높일수있습니다。특수한매크로대물렌즈의30%향상된시야를이용해보십시오。
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30%향상된시야
DM3 XL검사시스템은넓은시야덕분에결함을더빠르게발견하고수율을높일수있습니다。특수한매크로대물렌즈의30%향상된시야를이용해보십시오。
Dm3 xl은합리적가격으로뛰어난광학성능을제공합니다。
감도와해상도가크게향상되었습니다。
徕卡대물렌즈에대한자세한정보는徕卡光学中心에서확하실수있습니다。
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