Detección rápida, acción rápida
El sistema de inspección para la microelectrónica y los半导体DM3 XL
国家进口速度inspección,国家生产过程控制análisis国家工业缺陷和衰落microelectrónica国家半导体。Cuanto más rápido detecte undefto, más rápido podrá reaccionar。
30% más de campo视觉
Con un gran campo visual, el sistema de inspección DM3 XL permite a su equipo identity缺陷más rápidamente y aumentar su tasa de rendimiento。Haga uso del campo visual auumentado un30% del exclusivo objectitivo macro。