異物混入原因の解明のためには,異物の同定(定性)が重要であり,あらゆる分野において異物の分析が行われています。ライカマイクロシステムズの清洁专家(コンタミ解析)ソリューションはさらに進化し,残留異物解析が可能になりました。微粒子の検出,計数,分析,異物混入のリスクに基づく分類のほか,同時に粒子の組成を分析することもできます。操作は顕微鏡1台で完結,異物混入原因の追求時間を最大90%節減できます。
ライカの新ソリューションは,製品の性能や寿命に影響する微粒子(金属)の発生源の分析が,数秒で得られます。発生源をよりすばやく特定し,ますます厳格になるVDA 19規格やISO規格への適合も早まります。微粒子の発生源の探索がより短時間でできるため,より経済性の高い清浄度解析も可能になります。
新しいソリューションでは清洁专家ソフトウェアを搭載した德国马克米金属顕微鏡と填词(激光诱导击穿光谱,レーザー誘起ブレークダウン分光法)システムを一体化。この二合一ソリューションによって,目視検査と化学分析とが1つの装置で実行できることになります。
清浄度解析のワークフローが1段階に短縮され,従来の電子顕微鏡(SEM / EDS)などの下流分析に比較して,現場にて迅速な検査が可能になります。
新しいライカ清浄度ソリューションの利点:
- 異物混入原因を光学顕微鏡で検出,その場で高速に化学分析を行います。
- すべてのステップを顕微鏡下で操作でき,費用と時間を削減します。
- 従来のSEM / EDS等による分析を軽減:
——フィルター試料の追加調製や他の装置への転送の必要もありません。
——関心領域を再度探したり,システムのセットアップ等も不要です。
清浄度解析の時間と手間が節減できます。新しい清洁专家と填词の二合一ソリューションの詳細情報はオンラインでご覧いただけます。またはライカマイクロシステムズまでお問い合わせください。
